1.WAT 测试
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数据准确:测试数据可与市面上Baseline机台match
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高效生产能力:测试速度为市面上Baseline 1.4x-5x
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支持多类工艺wafer测试:涵盖LOGIC、CIS、DRAM、SRAM、FLASH、RO、BCD等;
算法库丰富:支持ID/VT/VTGM/IOFF/ISUB/BV/CAP/CV/IV/ICP,BETA/VBE/BVCEO/BVCBO/BVEBO,R2/RKLV/LK/CAP_METAL,IREAD/ISTANDBY/IDDQ/WM/SNM,ERASE/PROGRAM,IDDA/IDDQ/FREQ等
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软件及算法灵活可定制
2.WLR 测试
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数据准确:测试数据可与市面上Baseline机台match
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支持HCI/ BTI/ VRAMP/ JRAMP/ VTDDB/ JTDDB/ EM/ PID/ SM/ ICP等 WLR 测试
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可根据测试需求进行定制化开发,如添加特定的监测模式,VRAMP测试过程输出四端Curve等
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支持智能化并行测试,大幅度提升测试速度
目前,可以赢钱的牛牛软件可基于行业通用的JEDEC或客户定制标准提供半导体工艺可靠性相关咨询、验证、测试及数据分析服务, 测试项目包括:
自主研发高性能硬件配置方案,未来将逐步增加测试设备种类,拓展到其他测试应用场景。
自此,可以赢钱的牛牛软件出具的校准报告,能在全球100多个国家和地区互认,可为全球客户提供极具公信力的校准证明,为客户提供更可靠、更权威的技术支持。
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