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晶圆级电性参数测试设备
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  晶圆级电学参数测试设备，为客户提供准确且高度自动化的测试解决方案，用于高效监控工艺
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  晶圆级可靠性(WLR)测试设备，快速准确评估元器件是否能保持其电性规格高一致性的能力
• 工艺开发测试设备
  应用于技术研发阶段，大幅提升测试效率和精度

• 成品率提升服务（Yield Ramp Service)
  为新工艺节点开发提供定制化服务，实现工艺开发周期的缩短和成品率的提升
• DFT 设计服务 （DFT Design Service）
  DFT（Design for Test）技术作为业界的标准手段，通过在芯片设计时加入测试专用电路，增加芯片的可测试性